Hartip 3000

* 표준 Impacr Device D
* 정확도:±0.5% @ HL=800
* 반복 정밀도:±4L
* 데이터저장:8개 블럭 안에 각 960개 데이터 저장
* 인터페이스:RS232 로 PC 또는 마이크로 프린터에 직접연결
* 측정온도:-10°C ~ +45°C

 제품특징

  * 표준 Impacr Device D

  * 정확도:±0.5% @ HL=800

  * 반복 정밀도:±4L

  * 데이터저장:8개 블럭 안에 각 960개 데이터 저장

  * 인터페이스:RS232 로 PC 또는 마이크로 프린터에 직접연결

  * 측정온도:-10°C ~ +45°C

 

 제품사양

모  델

HARTIP 3000

측정방식

반발식(Leeb) 측정방식

정확도

± 0.5% @ HL = 800, 반복 정밀도 : ± 4L

Display

디지털 LCD

경도측정단위

HL / HRC / HRB / HB / HV / HS

측정범위

HL174 - 960/ HRC19 - 62/ HRB13 - 102/ HB20 - 683/ HV80 - 1027/ HS32 - 102 

메모리

8개 블럭 안에 각 960개 데이터 저장

인터페이스

RS232 로 PC 또는 마이크로 프린터에 직접연결

표준

ASTM A956에 적합

 

 적용분야

 * 설치된 기계나 조립된 구성 부품의 경도 측정.

 * 금형 내부의 몰딩 표면 열처리 경도 검사.

 * 정확한 경도 Data를 요구하는 제품의 경도 검사.

 * 열처리 공정의 경도 균질성 검사.

 * 다양한 형태의 제품 경도 및 강도 측정.

 * 각종 구조물의 안전성 검사.

 

Impact Device 종류 및 특징

Type

   특      성

D

(기본) 대부분의 경도 측정에 활용되는 표준형 디바이스.

DC

길이가 매우 짧은 impact device 이며 그 외의 사양은 type D 와 동일 함.

- 공간이 좁아서 표준 디바이스인 D 타입으로 측정이 불가할 경우 선택 가능

- holes and cylinders

- 조립된 기계 장치의 내부 측정

D+15

전면부가 slim한 구조

적용:

- 홈 부위나 움푹 파진 내부 측정에 용이.

DL

전면부가 매우 slim 한 구조 (좁은 부위 측정에 용이)

적용:

- 매우 좁은 부위 측정

 

- 홈 부분의 바닥측정 등

C

표준 Device 인 D 타입보다 impact energy를 약하게 한 디바이스.

적용

- 표면 경화 또는 코팅 부품                                                               

 

- 측정물 최소 두께: 1mm.

 

- 얇은 측정물 또는 충격에 민감한 부품

G

Impact energy 를 강화한 디바이스 ( 표준 D형 디바이스보다 약 9 배 강한 impact)

적용:

- Brinell hardness range 전용

 

- 표면 후 가공을 하지 않는 대형 주조물 및 단조 부품.

 

 

 Measurement and conversion Table